溫度沖擊試驗是指在電子產(chǎn)品上施加快速變化的溫度，用以暴露產(chǎn)品在低于溫度變化條件下會出現(xiàn)的潛在缺陷。在電子產(chǎn)品的研制過程中，會因各種原因導致缺陷的發(fā)生。溫度沖擊試驗是針對電子產(chǎn)品在實際使用中可能遇到的溫度環(huán)境及應力強度，選擇能激發(fā)其潛在缺陷的溫度，用以確定產(chǎn)品在經(jīng)受周圍大氣溫度的急劇變化(溫度沖擊)時，產(chǎn)品是否產(chǎn)生物理損壞或性能下降使?jié)撛谌毕菁铀侔l(fā)展成為早期故障，剔除元器件、部件的早期失效及暴露設計和制造工藝的不足，使產(chǎn)品的可靠性更接近實際需要，從而保證和提高電子產(chǎn)品的可靠性。